直讀光譜儀異?,F(xiàn)象處理發(fā)表時(shí)間:2019-11-26 17:13作者:朱經(jīng)理 一、異常現(xiàn)象:激發(fā)聲音不連續(xù),中間有間隔;邏輯控制板上紅燈亮 異常原因:這種異常現(xiàn)象多來(lái)自于輔助間隙由于長(zhǎng)期使用內(nèi)部積灰太多,長(zhǎng)此以往,會(huì)使輔助間隙邊緣放電,導(dǎo)致?lián)p壞,更新。 解決辦法:拆下激發(fā)臺(tái)下的輔助間隙,用酒精棉簽清理即可。 二、異?,F(xiàn)象:激發(fā)點(diǎn)為白點(diǎn)或灼斑 異常原因:這種情況多為氬氣純度不夠或儀器內(nèi)部管路堵塞導(dǎo)導(dǎo)致的。 解決辦法:①對(duì)于氬氣純度不夠,可以更換氣瓶或?qū)鍤鈨艋鲀艋街?;②?duì)于儀器內(nèi)部管路堵塞問(wèn)題,可以對(duì)氬氣管路進(jìn)行檢查、清理,應(yīng)放在激發(fā)臺(tái)下“U”型管和其上的電磁閥部分,該部分管路較細(xì),易發(fā)生堵塞;③廢氣排氣管堵塞也會(huì)導(dǎo)致上述現(xiàn)象。 三、異常現(xiàn)象:鋁的分析數(shù)據(jù)異常 異常原因:目前,各鋼廠普遍采用三氧化二鋁砂帶打磨試樣,這樣砂帶上的三氧化二鋁勢(shì)必會(huì)對(duì)鋼中鋁的分析數(shù)據(jù)帶來(lái)影響,主要表現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:①標(biāo)準(zhǔn)化時(shí),影響高低標(biāo)的鋁分析數(shù)據(jù)②日常分析時(shí),對(duì)生產(chǎn)試樣的分析數(shù)據(jù)的影響。 解決辦法:①打磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品時(shí),應(yīng)采用舊砂帶,若采用新砂帶,需先用廢樣打磨一下,才能磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品,然后用吸耳球吹洗表面;同時(shí)在標(biāo)準(zhǔn)化時(shí),對(duì)鋁的強(qiáng)度值應(yīng)格外關(guān)注,發(fā)現(xiàn)偏差較大的點(diǎn)應(yīng)刪除;②在分析生產(chǎn)樣品時(shí),同樣應(yīng)關(guān)注鋁的分析結(jié)果,出現(xiàn)偏差應(yīng)多分析幾點(diǎn),將超差結(jié)果舍去。 四、異?,F(xiàn)象:①描跡時(shí),多數(shù)或所有元素通道未出現(xiàn)位置;②標(biāo)準(zhǔn)化時(shí),各元素高低兩個(gè)點(diǎn)的強(qiáng)度差別不大,且校正系數(shù)αβ值異常。③濃度分析時(shí),標(biāo)樣儀器分析值與其化學(xué)成分偏差較大。 異常原因:上述異常現(xiàn)象產(chǎn)生的原因是由于技術(shù)員或操作者在描跡時(shí)出現(xiàn)失誤,轉(zhuǎn)錯(cuò)了描跡旋鈕方向或圈數(shù),致使出射波長(zhǎng)偏離設(shè)置位置。 解決辦法:將如上入射狹縫復(fù)原,再重新調(diào)到儀器出廠位置,進(jìn)行描跡。 上海容好儀器設(shè)備有限公司 日立光譜儀 聯(lián)系人:朱新紅 021-5108 9072 137 6190 9125(微信同步) 搜索
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